Старая цена: 0
Производитель: X-Rite
Бренд: X-Rite
Измеряет значения плотности ISO от 0.00 D до 6.00 D. Обладающий высокой точностью и стабильностью, он может также производить измерения в ультра-фиолетовом диапазоне, что позволяет выполнять тесты мутности основы пленки, невидимой другими способами. Измерения площади растровой точки могут быть переданы на любой Mac, с использованием входящего в комплект интерфейсного кабеля.
Измеряет плотность и площадь растровой точки в большом диапазоне измерений и используется для обычных или высокоплотных линейных пленок.
Оптическая плотность: 0–6.0 D
% растровой точки: 0–100
Измеряемые фотоформы: позитив/негатив
Стабильность нуля: ±0.02 D за 8 часов (обычно ±0.01 D)
Точность измерений: ±0.02 D (0–5.0 D) ±1% (5.0–6.0 D)
Повторяемост:ь ±0.01 D (0–5.0 D) ±2% (5.0–6.0 D)
Апертура, мм: 1, 2, 3 (0.5 по заказу)
Питание: 220V
Время разогрева, мин: 2 (Ortho), 5 (UV)
Системы распознавания: Ortho / UV / Vision
Комментарии