X-Rite ICP2X (пластина)

Старая цена: 0 Производитель: X-Rite Бренд: X-Rite размер измеряемого образца — 1.3х1 мм диапазон измеряемых линиатур: 65-380 lpi (26-147 лин/см) измерение офсетных пластин с использованием красного источника света (R) измеряет регулярные растры (AM) и стохастические (FM) растры определяет относительную площадь растровых элементов позволяет наблюдать форму растровых элементов на дисплее Plate Quality Software — программное обеспечение позволяет документировать измеренные показатели, что в значительной степени облегчает усилия по оптимизации процесса изготовления форм. Позволяет создать базы данных.